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纳米压痕测试可以测出什么
纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。纳米压痕测试是一种非接触式...
2024-04-21 01:40:1385 -
芯片测试教程
纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。芯片测试是保障芯片质量的重...
2024-03-27 19:32:20593 -
fib检测方法有多种常用的是
纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。在金融领域，反欺诈检测是非...
2024-03-27 09:04:15370 -
芯片功能的常用测试手段或方法有几种
芯片功能的常用测试手段或方法有多种,包括:1.逻辑覆盖测试:逻辑覆盖测试(LogicalCoverageTesting)是一种基于深度表的测试方法。在逻辑覆盖测试中,测试工具会生成测试用例,以检测设计...
2024-03-24 16:54:19392
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2024-03-15 19:26:06 -
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纳米压痕仪基本使用方法g20005
2024-03-21 15:20:19 -
TEM系统
2024-03-21 15:25:32